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红外线测温仪的工艺监控

作者:红外线测温仪的工艺监控  转载自:红外线测温仪的工艺监控  发布日期:2013-06-03

红外线测温仪的工艺监控

通过以上测试可以看出红外线测温仪,发光二极管即使有很小的电流时,在LED的压降也是很明显的。这也符合发光二极管的特性曲线。
所以,如果与发光二极管驱动的下一级内阻要是比较小(小于10M)的话,那么其输出必然是3V左右。
当然如果使用的前级驱动电路有内部上拉(如PCF8574T内部有100uA若上拉食品红外测温仪,51的P1或P2,P3口等)则另当别论。所以我说如果这样用最好并联一个10K的电阻.电阻器出现故障后,最好是用同阻值、同类型、同功率的电阻器代换。如果没有相同的电阻器来代换,可采取以下代换方法:
  1)当阻值相同时红外线测温仪,用功率大的电阻器代换功率小的电阻器(只要安装位置放得下),但反过来不能直接代换。
    2)当阻值和功率不相同时,用儿个阻值较小的电阻器申联代替大阻值的电阻器,如图所示。电阻器串联公式为方块电阻有一个特性,即任意大小的正方形边到边的电阻都是一样的,不管边长是1m还是0.1m,它们的方阻都是一样,这样方阻仅与导电膜的厚度和电阻率有关。方块电阻计算公式:R=ρL/S ,ρ为物质的电阻率,单位为欧姆米(Ω. m),L为长度,单位为米(m),S为截面积,单位为平方米(m2),长宽相等时,R=ρ/h ,h为薄膜厚度。材料的方阻越大,器件的本征电阻越大,从而损耗越大。
用于离子注入或导电薄膜的工艺监控,主要关心方块电阻绝对值与均匀性,离子注入方块电阻反映剂量,导电薄膜方块电阻反映厚度红外线测温仪,方块电阻是电路设计人员和工艺操作人员的一个接口。电路设计人员可以根据工艺库把实际的电阻值转换成方块电阻高温红外线测温仪,而工艺操作人员可以根据方块电阻确定实际的电阻值。对于薄膜:厚度越大,电阻越小.厚度越小,电阻越大。4、线绕电阻
  是用电阻丝在环状骨架上绕成的,其稳定性和精密度都很高,但由于它体积比较大,一般仅用于大功率的地方,例如胆机的供电电路上。
  现在的发烧友多采用“文革”时期生产,如价廉物美的国产大红炮金属膜电阻。经济条件好的就用美国DALE金属膜电阻或HOLCO电阻。其实,金属膜电阻用得多,音色会变得冷硬不好听,而用“文革”时期一些军工厂生产的绿色碳膜电阻,声音表现更圆滑甜润,醇厚耐听。这些碳膜电阻无磁性,噪音也低,价钱也便宜,可媲美进口旧货,是胆机首选。
  5、电位器
  是音频信号的必经之路红外线测温仪,它会直接影响到声音的好坏,现在人们多数采用日本的ALPS电位器。在温度一定的情况下,有公式R=ρl/s 其中的ρ就是电阻率,l为材料的长度,单位为m, s为面积,单位为米平方;。可以看出,材料的电阻大小正比于材料的长度,而反比于其面积。
  各种金属导体中,银的导电性能是最好的,但还是有电阻存在。20世纪初,科学家发现,某些物质在很低的温度时,如铝在1.39K(-271.76℃)以下,铅在7.20K(-265.95℃)以下,电阻就变成了零。这就是超导现象,用具有这种性能的材料可以做成超导材料。目前已经开发出一些“高温”超导材料,它们在100K(-173℃)左右电阻就能降为零。
  如果把超导现象应用于实际,会给人类带来很大的好处。在电厂发电、运输电力、储存电力等方面若能采用超导材料,就可以大大降低由于电阻引起的电能消耗。如果用超导材料制造电子元件,由于没有电阻,不必考虑散热的问题,元件尺寸可以大大的缩小,进一步实现电子设备的微型化。采样电阻的阻值会选在1欧姆以下,属于毫欧级电阻,但是部分电阻红外线测温仪,有个采样电压等要求,必须选择大阻值电阻,但是这样电阻基数大,产生的误差大。
采样电阻和HCPL-7840 的连接如图
采样电阻R1 的正端连接到Vin+ ,采样电阻的负端连接到Vin?,把实时的电流转化为模拟电压输入芯片;同时Vin和GND1 连接,把供电电源的返回路径又作为采样线连接到采样电阻的负端,因为电机在工作时有很大的电流流过采样线路,电路中的寄生电感会产生很大的电流尖峰,而此种连接能把这些暂态噪声视为共模信号,不会对采样电流信号形成干扰;另外,为消除采样电流输入信号中的高频噪声,采样电阻上采集到的电压信号必须经过由R2 及C3组成的低通滤波器进入芯片。2、文字符号法:文字符号法是将电阻器和电容器的标称值和允许偏差用数字和文字符号按一定规律组合标志在电阻体和电容体上红外线测温仪。电阻器和电容器标称值的单位标志符号见表1,允许偏差的标志符号见表2。
   
      先举几个电阻器的例子:6R2J表示该电阻标称值为6.2欧姆(Ω),允许偏差为±5%;3k6k表示表示电阻值为3.6千欧(kΩ),允许偏差10%;1M5则表示电阻值为1.5兆欧(MΩ),允许偏差±20%。再举几个电容器的例子:2n2J表示该电容器标称值为2.2纳法(nF),即2200皮法(pF),允许偏差为±5%;47nk表示电容器容量为470纳法(nF)或0.47微法(uF),允许偏差±10%。在电路图中,电阻器的欧姆符号Ω和电容量的法拉符号F常可略去不标。 光照射到度件,光电流达到正常值之63%的时间,称为"上升时间",反之一,将光遮断,而光电流减少为原来的63%之时间,则叫做" 衰弱时间"。一般其值为10毫秒至数秒,若置于黑暗的时间较短而有照度愈强,向应时间就有愈短之倾向,此外,负载电阻增大红外线测温仪,则上升时间就变短而衰弱时间就变长。
4.温度特性: 电脑桌面壁纸

CDS之禁带宽度高达2.4eV(eV为电子伏特),故可以在-20℃~70℃ 之范围内工作,当温度上升,光灵敏度减少,在低照度时特别显著。VCS1625ZP具有功率系数为5 ppm(ΔR由于自加热)在额定功率,热稳定时间<1纳秒(标称值范围内实现10ppm的稳态值),宽泛电阻范围从0.3Ω为10Ω。在这个范围内的任何电阻值可以在任何宽容,没有额外的成本或供货时间效应。电阻提供一个上升时间为1.0 ns无振铃,很短的时间超负荷<0.005%(50 ppm)的0.010μVRMS/ V应用电压(<-40分贝)红外线测温仪,电流噪声,电压系数<0.1 PPM / V。

提供极高的静电放电(ESD)抗扰度,该装置能承受至少25千伏ESD,提高可靠性,并提供了无电感(<0.08μH),无电容设计。散装金属?箔技术的VCS1625ZP的提供了一个显着的减少电阻元件的环境温度变化(TCR),通过改变负载引起的自加热效应的敏感性接触式红外线测温仪。这使得设计者可以在固定电阻应用中保证了高度的稳定性和准确性。此外红外线测温仪,电阻的设计结果在一个非常低的热EMF 0.05μV/°C(典型值),这是在精密应用的关键。



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